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用于低磁導率材料加工后的微觀結構檢測技術

發布時間:2022-02-25 點擊量:1206

用于低磁導率材料加工后的微觀結構檢測技術

概述

檢查低磁導率材料加工后的微觀結構變化。 

特征

(1) 可以在短時間內準確測量低磁導率的材料。 

(2) 材料質量控制可以很容易地進行。 

(3) 可以進行混合不同材料的試驗。

規格

測量范圍1.001-4
測量范圍1.03·1.1·1.3·2.0·4.0(5個范圍)
準確性± 3% 范圍
校準方法附標準試片
輸出DC 1V / FS(但是,當設置范圍 1 時)
電源AC100V ± 10% 50 / 60Hz 約 50VA
外形尺寸(mm)/質量260W x 162H x 310D(包括突起)約4kg



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