在工業檢測領域，光源的選擇直接影響檢測效率和精度。日本山田光學的YP-150I和Sena的185LE均采用鹵素燈技術，但在設計理念和應用場景上存在顯著差異。本文將從照度、照射距離、熱管理、適用行業等維度進行對比，幫助用戶根據需求選擇優方案。
| 參數 | 山田光學 YP-150I | Sena 185LE |
|---|---|---|
| 照度 | 400,000Lx（30mmφ） | 400,000Lx（55mmφ） |
| 照射距離 | 140mm（短距離聚焦） | 310mm（長距離適用） |
| 光束直徑 | 30-50mm（可調） | 55mm（固定） |
| 光源類型 | 150W 鹵素燈（冷鏡技術） | 185W 鹵素燈（強制空冷） |
| 燈泡壽命 | 50小時 | 未明確（類似鹵素燈壽命） |
| 冷卻方式 | 強制風冷 | 強制空冷 |
| 調光方式 | 兩級調光（高/低） | 20%-100% 無級調光 |
| 適用行業 | 半導體、玻璃、精密檢測 | TFT面板、觸摸屏、晶圓檢測 |
YP-150I：短距離超高照度，適合微米級缺陷檢測
照射距離僅 140mm，但能在 30mm直徑 范圍內提供 400,000Lx 超高照度，適合檢測 <0.2μm 的劃痕、異物等微小缺陷。
冷鏡技術減少熱影響，適用于溫度敏感材料（如半導體晶圓、光學玻璃）。
185LE：長距離大范圍照明，適合產線自動化檢測
照射距離 310mm，光束直徑 55mm，適合大尺寸面板（如TFT、觸摸屏）的均勻照明。
無級調光（20%-100%）適應不同反光率材料，適用于印刷品、濾光片等色彩敏感檢測。
YP-150I：冷鏡技術 + 強制風冷，熱影響降低2/3
采用冷反射鏡，相比傳統鋁鏡，熱輻射減少 66%，適合長時間檢測熱敏感樣品。
但燈泡壽命僅50小時，需頻繁更換，維護成本較高。
185LE：強制空冷 + 寬電壓適配，適合連續作業
支持 AC 95V-260V 全球電壓，適用于不同地區的生產線。
散熱系統穩定，但鹵素燈發熱仍可能影響精密電子元件。
| 行業 | YP-150I 優勢 | 185LE 優勢 |
|---|---|---|
| 半導體晶圓 | ? 超高照度，檢測0.2μm缺陷 | ? 發熱可能影響晶圓穩定性 |
| TFT/觸摸屏 | ? 光束范圍較小 | ? 55mm均勻照明，減少眩光 |
| 金屬加工 | ? 高亮度檢測焊接、劃痕 | ? 無級調光適應不同反光率材料 |
| 光學鏡片 | ? 冷鏡減少熱畸變 | ? 鹵素燈可能影響鏡片精度 |
? 需要檢測 <0.2μm 的超微缺陷（如半導體晶圓、精密光學元件）
? 檢測環境對熱敏感（冷鏡技術減少熱影響）
? 檢測區域較小（30mm直徑內超高亮度）
? 需要長距離（310mm）、大范圍（55mm） 均勻照明（如TFT面板檢測）
? 產線需無級調光適應不同材料（如印刷品、濾光片質檢）
? 設備需全球電壓兼容（AC 95V-260V）
YP-150I 是“高精度檢測專家"，適合超精密缺陷分析，但燈泡壽命短，維護成本高。
185LE 是“長距離多面手"，適合自動化產線，但鹵素燈發熱可能影響部分敏感材料。
若預算允許，可搭配使用：YP-150I 用于實驗室精密檢測，185LE 用于產線快速篩查，以實現優檢測效率。
